Компоненты 🇨🇳 Китай
上海精测半导体 / Precision Measurement
Поставщик оборудования инспекции и метрологии для производства интегральных схем. По буклету компания разрабатывает системы для thin-film/thickness metrology, critical dimension, wafer defect inspection, e-beam inspection, optical metrology, WAT и ATE.
Сегменты: Измерения · Полупроводники
Компоненты 上海精测半导体 / Precision Measurement
- Precision Measurement PMISH metrology portfolio
Метрологические системы PMISH для semiconductor manufacturing: thin-film thickness, OCD/CD, wafer stress/warpage, e-beam measurement, WAT/CP electrical test и scale/overlay-like measurements.
- Precision Measurement PMISH wafer defect inspection portfolio
Оборудование PMISH для инспекции дефектов пластин и review: Vega 300/500, eSpec/eVc, BFI, eView, iView и AeroScan серии для bare wafer, patterned wafer, e-beam review и FIB-SEM сценариев.
Источники
- 上海精测半导体技术有限公司_可搜索.pdf, стр. 2
- 上海精测半导体技术有限公司_可搜索.pdf, стр. 3