上海精测半导体 / Precision Measurement

Поставщик оборудования инспекции и метрологии для производства интегральных схем. По буклету компания разрабатывает системы для thin-film/thickness metrology, critical dimension, wafer defect inspection, e-beam inspection, optical metrology, WAT и ATE.

Сегменты: Измерения · Полупроводники

• {'type': 'pdf_page', 'ref': '上海精测半导体技术有限公司_可搜索.pdf:2', 'note': 'Профиль и core technology'}
• {'type': 'pdf_page', 'ref': '上海精测半导体技术有限公司_可搜索.pdf:3', 'note': 'Метрики компании'}